Felületanalitikai Laboratórium

Laborvezető neve:	Tabakov Zsolt Miklós
Mobil telefonszám:	+36-30-961-4477
E-mail cím:	tabakov.zsolt##kukac##sze.hu
Honlap:	https://jhtt.sze.hu/feluletanalitika-laboratorium
Cím:	9026 Győr, Egyetem tér 1., Járműhajtás Laboratórium - F1 0.09.

A LABORATÓRIUM BEMUTATÁSA

A Felületanalitika Laboratórium a súrlódó felületek alak-, és anyagtulajdonságainak, valamint tribológiai igénybevétele során kialakuló határrétegeinek feltárása érdekében jött létre 2012-ben. Megalapítása óta a labor folyamatosan fejlődik, így az induláskor elérhető, szemrevételezésre és dokumentálásra alkalmas digitális és sztereomikroszkópokon, felületi mikrotopográfia (érdesség és hullámosság) érintésmentes vizsgálatára alkalmas konfokális mikroszkópon, valamint a kopás gravimetrikus meghatározását lehetővé tevő mikromérlegen túl ma már fejlett téremissziós pásztázó elektronmikroszkópos technikával, illetve Röntgen fotoelektron spektroszkópiával felszerelve állunk akadémiai és ipari megbízóink rendelkezésére. Rutin feladataink közé tartoznak a felületi érdesség, valamint kopástérfogat meghatározása fémes mintákon, nagy felbontású elektronsugaras képalkotás, felületi határrétegek és bevonatok összetételének meghatározása, valamint a tönkremeneteli folyamatok visszafejtése károsodott alkatrészekből.

VIZSGÁLATOK BEMUTATÁSA

Vizsgálat neve	A vizsgálat alapjául szolgáló szabvány megnevezése	Akkreditált vizsgálat I/N	Rövid leírás
Felületi érdesség és felületi topográfia vizsgálata	Nincs	N	Megbízó által küldött minta, vagy készített metrológiai minőségű replika felületének vizsgálata optikai módszerek alkalmazásával, ezáltal tapintásmentes felületi érdesség, felületi topográfia, illetve kopásmennyiség meghatározása konfokális mikroszkópia, vagy fehérfény interferometria segítségével.
Káranalízis	Nincs	N	Megrendelői igényekhez igazított részleteséggel végzett vizsgálatok, a bekövetkezett meghibásodás feltárásának érdekében. Az ipar számos területen releváns mérések sorozata megvalósítható.
Felületi bevonatok, rétegek és szennyeződések összehasonlító vizsgálata	Nincs	N	Próbatestek, alaktrészek felületének átfogó vizsgálata. A felület összetételének meghatározása, amely alapján megállapítható egy felületi bevonat, vagy felületi szennyeződések jelenléte, vagy hiánya.
Elektronsugaras képalkotás (SEM, pásztázó elektronmikroszkópia)	Nincs	N	A megbízó által megküldött minta felületének, vagy felületén készített mikrometszetének elektronmikroszkópos elemzése a mikrotopológia, szövetszerkezet, mikroszkopikus zárványok, repedések feltárása és megjelenítése érdekében. Kiegészülhet a minta elemi összetételének vizsgálatával (EDS/EDAX), vagy fémes minta esetén a szövet kristálytani elemzésével (EBSD)

Amennyiben nem találta meg az Önnek megfelelő vizsgálatot vagy a fentiektől eltérő, egyedi vizsgálatot szeretne kérni, kérjük, vegye fel velünk a kapcsolatot!

Tabakov Zsolt Miklós

E-mail: tabakov.zsolt@sze.hu

Mobil: +36-30-961-4477

BERENDEZÉSEK BEMUTATÁSA

Berendezés neve, típusa	Paraméterek, vizsgálati tartomány	Végezhető vizsgálatok
Infravörös spektrométer (FTIR), Bruker Invenio S	400-7000 hullámszám tartomány, KBr ablakos küvetta folyadékokhoz (víztartalom nem lehet), gyémánt ATR mérőcella polimerek, porok méréséhez, mintatartó fóliák vizsgálatához	Kenőanyag kondíciójának gyors vizsgálata, oxidáció, nitráció, tüzelőanyag tartalom, maradék adalék tartalom meghatározása. Műanyag és gumi alkatrészek összetételének, felületi szennyezettségének vizsgálata. Porok, fóliák összetételének vizsgálata.
Digitális mikroszkópok, Keyence VHX 1000, Zeiss Discovery V.20	Széles nagyítási tartomány több objektív segítségével.	Szemrevételezés és fotódokumentáció különböző megvilágítások és nagyítások mellett
Pásztázó mikroszkópok (SEM, FESEM, FIB), Hirox SH 4000M, Zeiss Crossbeam 350	Vezető és nem vezető minták legfeljebb 120 mm átmérővel, nanométeres felbontás, széles tartományban állítható gyorsító feszültség	Extrém nagy nagyításokban, nagy felbontással végezhető topográfiai és anyagszerkezeti elemzést tesz lehetővé, így vizsgálhatók például egy rendellenes kopásfolyamat eredményeként a felületen kialakuló elváltozások, vagy lehetséges például egy kezdődő tönkremeneteli folyamat feltárása. A fejlett analitikai detektorok segítségével meghatározható a minta elemi összetétele, így kimutatható például bizonyos szennyezők jelenléte, vagy ötvözőanyagok feldúsulása, valamint a fémes minták esetében megjeleníthető a szövetszerkezet és meghatározhatók a kristályirányok.
Röntgen fotoelektron spektroszkópia (XPS, ARXPS), ThermoScientific NexsaG2	Mintaméret legfeljebb 60x60x19 mm, vezető és szigetelő minták vizsgálata, első sorban szervetlen anyagokhoz	Pontbeli, vonalmenti és térképező vizsgálatok a felületen, valamint Angle Resolved és Depth Resolved profilozás a felületben található összetevők, valamint ezek kötési állapotainak meghatározása érdekében. Megmutatható például egy néhány mikrométer vastagságú bevonat jelenléte, vagy összehasonlítható két különböző kenőolajjal keletkező felületi határréteg összetétele.
Érintésmentes topográfia-vizsgáló (konfokális, WLI) mikroszkópok, Leica DCM 3D, Sensofar Slynx2	Maximális Z-tartomány konfokális és fókuszvariációs módban 12 mm; interferométer módban 1 mm Kiterjesztett felvétel legfeljebb 125x75mm Mintamagasság legfelejbb 100 mm Legnagyobb tömeg 3 kg	Felületi topográfia érintésmentes visgálata, ezáltal a felületi érdesség szabványos meghatározása, anyaghiány számszerűsítése, különböző motívumok, alakzatok jellemzése, számlálása, akár megbízó igényeire szabott kiértékelési eljárások alkalmazásával.

EGYÉB SZAKMAI KOMPETENCIÁK/FEJLESZTÉSEK

MUNKATÁRSAK

Név	Beosztás	Feladatkör, főbb tevékenységek
Tabakov Zsolt Miklós	Laborvezető	Üzemeltetés és fenntartás, elektronsugaras képalkotás és mikroanalitika
Nagy András Lajos	Tudományos munkatárs	Kutatás koordináció, elektronsugaras képalkotás és mikroanalitika
Pintér Dominika	Tudományos segédmunkatárs	Mikroanalitika, infraspektroszkópia
Ősi Mátyás	Gyakornok	Konfokális mikroszkópia
Kovács Márkó	Gyakornok	Mikroanalitika, infraspektroszkópia